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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)電子實(shí)驗(yàn)室具備HBM/MM/CDM 半導(dǎo)體ESD測(cè)試能力，覆蓋從研發(fā)摸底到量產(chǎn)的全階段ESD測(cè)試需求。

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室具備車載電子ESD測(cè)試能力，按照 AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)要求執(zhí)行 HBM、MM、CDM 全模式測(cè)試，為汽車芯片、車載傳感器、功率器件等提供靜電可靠性驗(yàn)證，助力產(chǎn)品質(zhì)量管控。

半導(dǎo)體 ESD（包含ESD人體放電模型測(cè)試）測(cè)試是評(píng)估器件抗靜電耐受能力的可靠性測(cè)試，通過模擬生產(chǎn)、運(yùn)輸、使用場(chǎng)景中的真實(shí)靜電沖擊，驗(yàn)證器件在不發(fā)生災(zāi)難性失效或潛在損傷下的最大耐受電壓，是半導(dǎo)體器件量產(chǎn)準(zhǔn)入的強(qiáng)制性門檻。

一次不經(jīng)意的靜電放電，可能導(dǎo)致激光器閾值漂移、探測(cè)器暗電流增大，甚至失效。因此，光器件ESD測(cè)試是確保系統(tǒng)長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵。

AEC-Q100作為車規(guī)芯片的標(biāo)準(zhǔn)，明確規(guī)定了車規(guī)芯片ESD測(cè)試的要求（HBM ≥ 2kV，CDM ≥ 500V），但對(duì)于應(yīng)用（如ADAS、動(dòng)力總成），整車廠往往要求更高的耐受電壓（如HBM 8kV）。因此，車規(guī)級(jí)ESD測(cè)試不僅是合規(guī)要求，更是產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的體現(xiàn)。