車(chē)載電子ESD測(cè)試
簡(jiǎn)要描述:優(yōu)爾鴻信檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室具備車(chē)載電子ESD測(cè)試能力,按照 AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)要求執(zhí)行 HBM、MM、CDM 全模式測(cè)試,為汽車(chē)芯片、車(chē)載傳感器、功率器件等提供靜電可靠性驗(yàn)證,助力產(chǎn)品質(zhì)量管控。
所屬分類(lèi):ESD測(cè)試
更新時(shí)間:2026-08-14
廠商性質(zhì):其他
| 品牌 | 優(yōu)爾鴻信 |
|---|
汽車(chē)電子工作環(huán)境復(fù)雜、安全等級(jí)要求高,靜電放電導(dǎo)致的器件失效可能引發(fā)整車(chē)功能故障,因此車(chē)規(guī)半導(dǎo)體對(duì) ESD 耐受能力有著遠(yuǎn)高于消費(fèi)級(jí)。AEC-Q100 是全球通用的車(chē)規(guī)集成電路標(biāo)準(zhǔn),其中 ESD 測(cè)試是車(chē)規(guī)器件量產(chǎn)準(zhǔn)入項(xiàng)。
優(yōu)爾鴻信檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室具備車(chē)載電子ESD測(cè)試能力,按照 AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)要求執(zhí)行 HBM、MM、CDM 全模式測(cè)試,為汽車(chē)芯片、車(chē)載傳感器、功率器件等提供靜電可靠性驗(yàn)證,助力產(chǎn)品質(zhì)量管控。
AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)的 ESD 測(cè)試要求
根據(jù) AEC-Q100規(guī)范,車(chē)規(guī)集成電路需通過(guò)以下三類(lèi) ESD 測(cè)試,且滿(mǎn)足對(duì)應(yīng)等級(jí)要求,方可通過(guò)車(chē)規(guī)可靠性認(rèn)證:
1. HBM 人體放電模型(AEC-Q100 4.2 條款)
模擬人體靜電接觸器件引腳的放電場(chǎng)景,是車(chē)規(guī)器件的基礎(chǔ) ESD 考核項(xiàng)。
基礎(chǔ)合格等級(jí):HBM ±2kV
高可靠等級(jí):HBM ±8kV
測(cè)試依據(jù):ANSI/ESDA/JEDEC JS-001
2. MM 機(jī)器放電模型(AEC-Q100 4.3 條款)
模擬車(chē)載生產(chǎn)組裝環(huán)節(jié)中,自動(dòng)化設(shè)備、金屬工裝對(duì)器件的靜電放電。
基礎(chǔ)合格等級(jí):MM ±200V
高可靠等級(jí):MM ±2kV
測(cè)試依據(jù):ANSI/ESDA/JEDEC JS-002
3. CDM 帶電器件模型(AEC-Q100 4.4 條款)
模擬器件自身帶電后接觸接地引腳的快速放電,是車(chē)規(guī)產(chǎn)線(xiàn)中最常見(jiàn)的 ESD 失效模式。
基礎(chǔ)合格等級(jí):CDM ±500V
高可靠等級(jí):CDM ±2kV
測(cè)試依據(jù):ANSI/ESDA/JEDEC JS-002
優(yōu)爾鴻信的測(cè)試優(yōu)勢(shì)
1. 技術(shù)團(tuán)隊(duì)深耕汽車(chē)電子可靠性領(lǐng)域,熟悉 AEC-Q100 全條款要求,測(cè)試流程、樣品處理、數(shù)據(jù)判定符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。
2. 進(jìn)口設(shè)備,數(shù)據(jù)可靠:采用 Thermo 原裝車(chē)規(guī)級(jí) ESD 測(cè)試平臺(tái),波形參數(shù)嚴(yán)格匹配 AEC-Q100 要求,測(cè)試結(jié)果可復(fù)現(xiàn)、可追溯。
3. 一站式測(cè)試:除 ESD 測(cè)試外,可同步提供 AEC-Q100 框架下的高低溫循環(huán)、高溫存儲(chǔ)、老化測(cè)試等全系列可靠性驗(yàn)證。
4. 常規(guī) ESD 全項(xiàng)測(cè)試 5-7 個(gè)工作日即可出具報(bào)告,支持加急測(cè)試服務(wù)
ESD測(cè)試適用汽車(chē)零件
車(chē)載控制芯片:MCU、SOC、電源管理芯片、接口芯片
車(chē)載傳感器:毫米波雷達(dá)、攝像頭芯片、壓力傳感器、溫濕度傳感器
功率半導(dǎo)體:車(chē)載 MOS 管、IGBT、二極管、電源保護(hù)器件
車(chē)載光電器件:車(chē)載 LED、激光二極管、光耦器件
其他車(chē)載半導(dǎo)體:射頻器件、存儲(chǔ)芯片、保護(hù)器件
測(cè)試流程
1. 需求對(duì)接:確認(rèn)器件類(lèi)型、目標(biāo)等級(jí)與執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
2. 方案報(bào)價(jià):1 個(gè)工作日內(nèi)出具定制化測(cè)試方案與報(bào)價(jià)
3. 樣品寄送:提供測(cè)試所需樣品與相關(guān)技術(shù)資料
4. 測(cè)試執(zhí)行:按照 AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)展測(cè)試
5. 報(bào)告交付:出具正式檢測(cè)報(bào)告
6. 技術(shù)答疑:針對(duì)報(bào)告與測(cè)試結(jié)果提供技術(shù)支持
如需確認(rèn)汽車(chē)電子是否符合 AEC-Q100 ESD 要求,或獲取車(chē)載電子ESD測(cè)試方案,歡迎聯(lián)系優(yōu)爾鴻信檢測(cè)。


您的位置:
在線(xiàn)交流