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優(yōu)爾鴻信檢測電子實驗室具備HBM/MM/CDM 半導(dǎo)體ESD測試能力,覆蓋從研發(fā)摸底到量產(chǎn)的全階段ESD測試需求。
半導(dǎo)體 ESD(包含ESD人體放電模型測試)測試是評估器件抗靜電耐受能力的可靠性測試,通過模擬生產(chǎn)、運輸、使用場景中的真實靜電沖擊,驗證器件在不發(fā)生災(zāi)難性失效或潛在損傷下的最大耐受電壓,是半導(dǎo)體器件量產(chǎn)準(zhǔn)入的強制性門檻。
AEC-Q100作為車規(guī)芯片的標(biāo)準(zhǔn),明確規(guī)定了車規(guī)芯片ESD測試的要求(HBM ≥ 2kV,CDM ≥ 500V),但對于應(yīng)用(如ADAS、動力總成),整車廠往往要求更高的耐受電壓(如HBM 8kV)。因此,車規(guī)級ESD測試不僅是合規(guī)要求,更是產(chǎn)品競爭力的體現(xiàn)。