汽車電子對(duì)可靠性的要求極為苛刻——工作溫度范圍寬、使用壽命長、故障率趨近于零。AEC-Q100作為車規(guī)芯片的標(biāo)準(zhǔn)，明確規(guī)定了ESD測(cè)試的要求（HBM ≥ 2kV，CDM ≥ 500V），但對(duì)于應(yīng)用（如ADAS、動(dòng)力總成），整車廠往往要求更高的耐受電壓（如HBM 8kV）。因此，車規(guī)級(jí)ESD測(cè)試不僅是合規(guī)要求，更是產(chǎn)品競爭力的體現(xiàn)。

車規(guī)芯片ESD測(cè)試的特殊性

更嚴(yán)的失效判據(jù)：車規(guī)級(jí)測(cè)試通常要求測(cè)試后器件參數(shù)變化小于±5%，且無任何功能失效。

多次抽樣：需覆蓋多個(gè)批次，確保工藝穩(wěn)定性。

環(huán)境適應(yīng)性：ESD測(cè)試后可能結(jié)合高溫老練，模擬實(shí)際工況。

優(yōu)爾鴻信的車規(guī)芯片ESD測(cè)試能力

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室按照AEC-Q100（Rev-H）要求建立測(cè)試流程：

HBM測(cè)試：Z高8kV，覆蓋所有引腳組合。

CDM測(cè)試：Z高2kV，針對(duì)SoC、MCU等復(fù)雜芯片。

可選MM測(cè)試：根據(jù)客戶需求補(bǔ)充。

我們采用Thermo原裝設(shè)備，確保波形參數(shù)（上升時(shí)間、脈寬）嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試報(bào)告包含詳細(xì)的失效電壓等級(jí)、I-V曲線、漏電數(shù)據(jù)，可直接用于AEC-Q100認(rèn)證提交。

我們的優(yōu)勢(shì)

標(biāo)準(zhǔn)全覆蓋：同時(shí)符合JEDEC、ESDA、AEC-Q100。

失效分析支持：對(duì)于失效樣品，可提供OBIRCH、EMMI等定位分析。

一站式服務(wù)：除ESD外，還可配套HTOL、TC、HAST等可靠性測(cè)試。

選擇優(yōu)爾鴻信檢測(cè)，讓您的車規(guī)芯片順利通過認(rèn)證，贏得市場信任。即刻聯(lián)系我們，獲取報(bào)價(jià)。