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靜電放電(ESD)是導(dǎo)致早期失效和潛在損傷的頭號殺手。無論是功率器件、傳感器還是分立器件,任何一道工序的靜電積累都可能讓芯片內(nèi)部擊穿,造成不可逆損壞。半導(dǎo)體ESD測試已成為晶圓廠、封測廠和IDM企業(yè)必須跨越的可靠性準入門檻。
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